| ½º¸¶ÅØÀÇ DOMESTIC ¿µ¾÷ÆÀÀº ¹ÝµµÃ¼ »ý»ê¿¡ ÇÊ¿äÇÑ Automatic
Test Equipment ÀåºñÀÇ °³¹ß »ý»ê ¾÷ü¸¦ ÁÖ °í°´À¸·Î ¸ð½Ã°í °í°´µé¿¡°Ô ´Ù¾çÇÏ°íµµ
Â÷º°È µÈ ¼ºñ½º¸¦ Á¦°øÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
±× µ¿¾È ½×Àº Know-How¸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î Àåºñ »ý»ê °ü·Ã Áö½ÄÀÇ Àü¹®¼ºÀ» ³ô¿© Package
Burn-in Tester, Wafer Burn-in Tester , Memory
Module Tester µî ±×¿Ü ´Ù¼öÀÇ ATE Aplication¿¡ ¾²ÀÌ´Â ¸ðµç
Sample ¿ë ºÎǰÀº ¹°·ÐÀ̰í Á¤±âÀûÀÎ ´ë·® ÁÖ¹® ÀÚÀç¿Í ±ä±Þ ¿äûÀÚÀ縦 Àû½Ã¿¡
±¸¸Å/°ø±ÞÇØ µå¸®°í ÀÖÀ¸¸ç, CustomerÀÇ °úÀפýºÒ¿ëÀç°í¸¦ ´ëÇàÇÏ¿© ÆÇ¸ÅÇÏ´Â Àϵµ
Àü¹®ÀûÀ¸·Î Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
ÀúÈñÀÇ ³ë·ÂÀÌ °í°´ÀÇ Á¦Ç° °æÀï·Â Çâ»ó¿¡ Å« µµ¿òÀ» µÈ´Ù°í »ý°¢Çϸé¼,
¾ÕÀ¸·Îµµ °è¼ÓÇÏ¿© °í°´ ¿©·¯ºÐ²² ÁøÁ¤ÇÑ ÀǹÌÀÇ ¹ÝµµÃ¼ Àü¹® TOTAL SOLUTION
¾÷ü·Î¼ÀÇ ¹ÏÀ½À» µå¸®°íÀÚ ³ë·ÂÇϰڽÀ´Ï´Ù.
• Application |